inTEST 熱流儀微處理器芯片高低溫測(cè)試
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話(huà),可以
產(chǎn)品名稱(chēng): inTEST 熱流儀微處理器芯片高低溫測(cè)試
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品展商: inTEST ThermoStream
簡(jiǎn)單介紹
在電子, 航空航天, 通訊實(shí)驗(yàn)等行業(yè)中, 對(duì)于使用的芯片有著嚴(yán)格的要求, 使用的芯片在嚴(yán)苛環(huán)境中能否正常工作, 可靠性如何, 成為重要的關(guān)注點(diǎn), 而傳統(tǒng)驗(yàn)證方法由于溫度變化, 穩(wěn)定速度慢和無(wú)法提供快速變化的溫度環(huán)境, 很難滿(mǎn)足相應(yīng)的測(cè)試需要, 美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)解決了傳統(tǒng)驗(yàn)證方法缺陷問(wèn)題, 提供快速高低溫沖擊能力.
inTEST 熱流儀微處理器芯片高低溫測(cè)試
的詳細(xì)介紹
ECO-710 微處理器芯片測(cè)試解決方案
在進(jìn)行微處理器芯片測(cè)試中, 客戶(hù)要求測(cè)試溫度 -40 到 125 °C
ECO-710 測(cè)試的溫度范圍 -80 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, 該產(chǎn)品解決客戶(hù)的需求.
美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) ECO-710 搭配 delta design 測(cè)試機(jī)共同進(jìn)行微處理器芯片測(cè)試, 有效提高了芯片測(cè)試的速度和準(zhǔn)確性, 快速進(jìn)行在電工作的電性能測(cè)試, 失效分析, 可靠性評(píng)估等.
微處理器芯片高低溫測(cè)試方法
1. 將待測(cè)微處理器芯片放置在玻璃罩中
2. 操作員設(shè)置需要測(cè)試的溫度范圍
3. 啟動(dòng) ThermoStream ECO-710, 利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理, 然后空氣經(jīng)由外部管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫, 氣流通過(guò)熱流罩進(jìn)入測(cè)試腔.
玻璃罩中的溫度傳感器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)當(dāng)前腔體內(nèi)溫度, 高低溫測(cè)試機(jī) ECO-710 自帶過(guò)熱溫度保護(hù)系統(tǒng), 操作員也可根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置高低溫限制點(diǎn).