美國(guó) inTEST ATS-710 通訊模塊高低溫測(cè)試客戶案例: 深圳某客戶在進(jìn)行通訊模塊生產(chǎn)質(zhì)檢中, 要求生產(chǎn)模塊流水線產(chǎn)品均需進(jìn)行 -30℃ 到 130 °C 范圍內(nèi)溫度測(cè)試. 設(shè)定不同的溫度數(shù)值, 模擬相關(guān)產(chǎn)品傳輸工況, 同時(shí)檢查不同溫度下所涉及到的元器件自動(dòng)頻率調(diào)整的功能是否正常. 推薦高低溫測(cè)試機(jī) ATS-710 測(cè)試溫度范圍 -75 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, 快速進(jìn)行在電工作的電性能測(cè)試, 失效分析,可靠性評(píng)估等.
高低溫測(cè)試機(jī) inTEST ATS-710 測(cè)試過(guò)程:
1. 客戶自行設(shè)置流水線產(chǎn)品放置治具, 將 ATS-710 的玻璃罩扣在仿形治具上 ( 產(chǎn)品放在治具內(nèi) ）.
2. 操作員設(shè)置需要測(cè)試的溫度范圍
3. 啟動(dòng) ThermoStream ATS-710, 利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入高低溫測(cè)試機(jī)內(nèi)部制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理, 然后空氣經(jīng)由管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫,氣流通過(guò)玻璃罩進(jìn)入測(cè)試腔. 玻璃罩中的溫度傳感器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)當(dāng)前腔體內(nèi)溫度, 高低溫測(cè)試機(jī) ATS-710 自帶過(guò)熱溫度保護(hù)系統(tǒng), 操作員也可根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置高低溫限制點(diǎn).
4. 通過(guò)持續(xù)運(yùn)行高低溫測(cè)試, 將通訊模塊在不同設(shè)定溫度下的運(yùn)行頻率, 產(chǎn)品工作狀況等相關(guān)參數(shù)自動(dòng)導(dǎo)出并存儲(chǔ)用于后期產(chǎn)檢分析以及產(chǎn)品工藝優(yōu)化. 同時(shí)對(duì)批次的定向品質(zhì)追溯也有較為確實(shí)的數(shù)據(jù)依據(jù)
高低溫測(cè)試 inTEST ATS-710 主要技術(shù)規(guī)格
inTEST ATS-710-M
溫度范圍: -75至+225 50Hz
輸出氣流量: 4 至18 scfm
變溫速率:
-55至 +125°C 約 10 s
+125至 -55°C 約 10 s
溫度精度: ±1℃
溫度顯示分辨率: ±0.1℃
與傳統(tǒng)高低溫測(cè)試箱, 溫濕度測(cè)試箱對(duì)比, inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)主要優(yōu)勢(shì)：
1. 變溫速率更快
2. 溫控精度：±1℃
3. 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度，可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4. 針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC (模塊), 可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái) load board上的 IC 進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類測(cè)試.
6. 對(duì)整塊集成電路板提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度.
美國(guó) inTEST Thermal Solutions 超過(guò) 50 年的熱測(cè)系統(tǒng)研發(fā)專家, 產(chǎn)品包含 Temptronic ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī) (又稱熱風(fēng)罩,熱流儀)，Thermochuck,ThermoSpot 接觸式高低溫測(cè)試機(jī)和 Thermonics Chillers 制冷機(jī). inTEST 已收購(gòu) Thermonics 和 Temptronic. inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于安捷倫 (Agilent),臺(tái)積電 (TSMC), IBM 等半導(dǎo)體, PCB 電路板, 光通訊, 電子行業(yè).