美國 inTEST 熱流儀提供觸摸屏控制芯片高低溫測試解決方案
某觸控芯片企業(yè), 其產(chǎn)品已在全球十多億臺智能設(shè)備上運行, 廣泛應(yīng)用于手機, 平板電腦, 筆記本電腦, 智能家居, 汽車等產(chǎn)品. 一直采用美國 inTEST ATS-710E-M 熱流儀與其測試機搭配, 為分析觸摸屏控制芯片, 觸摸板控制芯片, MCU 觸摸按鍵等產(chǎn)品的特性提供快速精準的外部溫度環(huán)境, 實現(xiàn)測試芯片性能的要求.
inTEST 熱流儀滿足觸控芯片的三項測試標準:
一. 基本性能測試: 溫度范圍 -50℃ 至 120℃ 之間快速循環(huán)測試
二. 特殊功能測試（非標準測試）: 搭配測試機共同使用, 通過軟件控制機臺, 通常設(shè)定3個溫度點, 高溫（80℃或 120℃）, 常溫 25℃, 低溫 -50℃; 結(jié)合測試機測參數(shù), 測試時間可幾秒鐘, 幾十分鐘, 甚至幾個小時.
三. 可靠性測試
美國 inTEST ThermoStream 熱流儀是為觸摸屏芯片提供低溫或高溫環(huán)境來進行可靠性測試的專用儀器, 因為其能在短時間內(nèi)迅速改變溫度而被廣泛應(yīng)用于芯片測試中, 能夠模擬觀察芯片在惡劣環(huán)境下的性能是否能維持正常水平. 測試系統(tǒng)在工作過程中, 會依據(jù)設(shè)定的溫度, 使系統(tǒng)通過特定的運算得出結(jié)果并去控制加熱器來達到調(diào)節(jié)溫度的目的.
inTEST 熱流儀功能特點：
型號: ATS-710E-M
溫度范圍: -80 至+225 °C
變溫速率: -55至 +125°C 約 10 s; +125至 -55°C 約 10 s
溫度顯示精度: ±1℃ (通過美國國家標準與技術(shù)研究院 NIST 校準)
自動升降溫: 冷凍機特殊設(shè)計, 制冷劑不含氟利昂, 無毒, 不易燃, 有效保護環(huán)境; 不需要液態(tài)氮氣 LN2 或液態(tài)二氧化碳 LCO2 冷卻
預防結(jié)霜: 干燥氣流循環(huán)吹掃測試表面, 防止水汽凝結(jié) (氣體流量 0.5 至 3 scfm)
自動待機: 空閑或加熱模式下, 自動減少能耗
加熱除霜: 快速去除冷凍機內(nèi)部積聚的水汽