高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
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產(chǎn)品名稱: 高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
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簡(jiǎn)單介紹
高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber適用于考核產(chǎn)品(整機(jī))、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
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高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber

高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber簡(jiǎn)介:本試驗(yàn)箱適用于考核產(chǎn)品(整機(jī))、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。
高低溫沖擊試驗(yàn)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術(shù)參數(shù)
型號(hào)
|
單位
|
TS-60
|
TS-120
|
TS-120P
|
TS-300
|
TS-300P
|
測(cè)試空間容積
|
L
|
60
|
120
|
120
|
300
|
300
|
移動(dòng)提籃最大負(fù)載
|
Kg
|
20
|
50
|
50
|
100
|
100
|
實(shí)驗(yàn)空間尺寸,高(H)×寬(W)×深(D)
|
mm
|
370x380x430
|
410x470x650
|
410x470x650
|
610x770x650
|
610x770x650
|
熱箱溫度范圍
|
℃
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
冷箱溫度范圍
|
℃
|
-80至 +70
|
-80至 +70
|
-80至 +70
|
-80至 +70
|
-80至 +70
|
熱箱升溫速率
|
K/min
|
17
|
14
|
18
|
11
|
23
|
冷箱降溫速率1
|
K/min
|
3.7
|
6.3
|
7.5
|
5.0
|
12.0
|
冷箱升溫速率,單箱操作1
|
K/min
|
3.7
|
2.0
|
2.0
|
1.5
|
1.5
|
溫度波動(dòng)度2
|
K
|
±0.3 至±1.0
|
±0.3 至±1.0
|
±0.3 至±1.0
|
±0.3 至±1.0
|
±0.3 至±1.0
|
溫度均勻性3
|
K
|
±0.5 至±2.0
|
±0.5 至±2.0
|
±1.0至±2.0
|
±0.5 至±2.0
|
±1.0至±2.0
|
熱/冷箱轉(zhuǎn)換時(shí)間
|
sec
|
<10
|
<10
|
<10
|
<10
|
<10
|
恢復(fù)時(shí)間-溫度變化測(cè)試
|
min
|
<154
|
<155
|
<126
|
<157
|
<158
|
熱箱校準(zhǔn)值9
|
℃
|
+125
|
+125
|
+125
|
+125
|
+125
|
冷箱校準(zhǔn)值9
|
℃
|
-40
|
-40
|
-40
|
-40
|
-40
|
1根據(jù)IEC 60068-3-5.通過(guò)選擇提升/降低熱箱/冷箱溫度來(lái)提高溫度變化速率.
2有效測(cè)試空間中心點(diǎn)。
3基于設(shè)置點(diǎn):溫度范圍-65℃ to +200℃
4MIL-STD-883E,方法 1010.9,強(qiáng)度級(jí) D,4.5 kglCs 分布于2個(gè)樣品架內(nèi),樣品內(nèi)測(cè)量.
5MIL-STD-883J,方法 1010.9,強(qiáng)度級(jí) D,12 kglCs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi),樣品內(nèi)測(cè)量.
6MIL-STD-883F,方法1010.9,強(qiáng)度級(jí) D,20 kgCs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi),樣品內(nèi)測(cè)量.
7MIL-STD-883J,方法 1010.9,強(qiáng)度級(jí) F,25 kg lCs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi),樣品內(nèi)測(cè)量.
8MIL-STD-883
F,方法 1010.9,強(qiáng)度級(jí) F,50 kglCs 分布于3個(gè)樣品架內(nèi),樣品內(nèi)測(cè)量.
9出廠計(jì)量.