inTEST 閃存 Flash/EMMC 高低溫測試
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產(chǎn)品名稱: inTEST 閃存 Flash/EMMC 高低溫測試
產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品展商: inTEST ThermoStream
簡單介紹
inTEST - Temptronic 高低溫循環(huán)測試機閃存溫度測試應用：
閃存(Flash Memory)，是非揮發(fā)性內(nèi)存的一種，不需電力來維持數(shù)據(jù)的儲存，可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種，前者用于儲存程序代碼，后者用于儲存數(shù)據(jù)。閃存應用范圍涵蓋汽車電子、因特網(wǎng)、存儲器、DSL 電纜調(diào)制解調(diào)器、數(shù)字電視、照相手機、藍芽、 GPS、工業(yè)電子…等等。
inTEST 閃存 Flash/EMMC 高低溫測試
的詳細介紹
閃存溫度測試原因
為確保閃存可在極端溫度環(huán)境(例如: 油氣探勘、重工業(yè)以及航空領域)可正常實現(xiàn)穩(wěn)健的閃存讀／寫操作功能，因此在出廠前需要進行溫度測試，inTEST - Temptronic ThermoStream 超高速高低溫循環(huán)測試機憑借可測試溫度 -100 ℃ 至 +300 ℃，每秒可快速升溫或降溫 18°C，溫度精度 +-1.0℃等優(yōu)勢廣泛應用于閃存制造行業(yè)。作為 inTEST 中國地區(qū)總代理，全權負責其新品銷售和售后維修服務
閃存溫度測試方法:
通過與愛德萬 (Advantest ) 內(nèi)存 IC 測試系統(tǒng)搭配之下，客戶可直接在極端溫度下測試閃存的運作特性。根據(jù)客戶實際要求，選用 inTEST ATS-545-M 高低溫循環(huán)測試機，并提供兩種溫度操作模式: Air mode 及 DUT mode
閃存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式來進行高低溫循環(huán)測式，將閃存與 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互連接，如此即可準確掌控受測物達到機臺所設定之溫度。閃存高低溫測試方法同樣適合內(nèi)嵌式記憶體eMMC 溫度測試。inTEST-Temptronic thermostream 高低溫測試機可與愛德萬 advantest，泰瑞達 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程機聯(lián)用，進行芯片高低溫循環(huán)測試。