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技術(shù)文章

應(yīng)力篩選專門(mén)名詞縮寫(xiě)詞:
應(yīng)力篩選專門(mén)名詞縮寫(xiě)詞:
ESS：環(huán)境應(yīng)力篩選
FBT：功能板測(cè)試儀
ICA：電路分析儀
ICT：電路測(cè)試儀
LBS：負(fù)載板短路測(cè)試儀
MTBF：平均故障間隔時(shí)間

溫度循環(huán)循環(huán)數(shù)：
a.MIL-STD-2164(GJB 1302-90)：在缺陷剔除試驗(yàn)中，溫度循環(huán)數(shù)為10、12次，在無(wú)故障檢測(cè)中則為10～20次或12～24次針對(duì)去除最可能發(fā)生的做工(workmanship)缺陷，大約需要6～10個(gè)循環(huán)才能夠有效去除，1～10個(gè)循環(huán)[普通篩選、一次篩選]、20～60個(gè)循環(huán)[精密篩選、二次篩選]。
b.DOD-HDBK-344(GJB/DZ34)初始篩選設(shè)備和單元一級(jí)采用10～20個(gè)循環(huán)(通常≧10)，組件級(jí)采用20～40循環(huán)(通常≧25)。

溫變率：
a.MIL-STD-2164(GJB1032)明確說(shuō)明：[溫度循環(huán)的溫度變化率5℃/min]
b.DOD-HDBK-344(GJB/DZ34)組件級(jí)15℃/min、系統(tǒng)5℃/min
c.一般未規(guī)定溫變率的溫度循環(huán)應(yīng)力篩選，其常用的度變化率通常為5°C/min